电感耦合等离子体质谱法

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）是一种将电感耦合等离子体（ICP）作为离子源，结合质谱（MS）进行元素分析的技术，这种技术将样品溶解后汽化离解为离子，通过测定质量数进行定量分析，一般用于金属元素及部分非金属元素的痕量分析，具有多元素同时分析的特点，检出限低，准确度高，基体效应小。

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能力概况

详华检测拥有安捷伦的高性能电感耦合等离子体质谱仪ICPMS 7850，能进行金属、半导体、陶瓷、聚合物等材料中痕量/微量杂质元素分析测定，评估材料纯度，对合金、复合材料等的主要及次要元素进行定量分析并确定元素组成比例，分析材料不同部位的元素分布并判断材料成分的均匀性，以及其它研发、生产和质量控制所需要的关键数据支持。其检测能力主要涵盖了新能源、增材制造、汽车零部件等多个领域。

仪器设备

安捷伦ICPMS 7850是一款将电感耦合等离子体（ICP）作为离子源与质谱（MS）相结合的先进分析仪器。在ICP-MS技术体系中，ICP负责将样品中的元素离子化，而MS则用于对离子进行质量分析与检测，能够实现对多种元素的快速、精准测定，为科研、检测等工作提供关键数据支撑。



功能特点

· 高灵敏度与低检测限：采用优化的离子透镜系统和高增益检测器，可有效降低背景干扰，对多数元素的检测限低至ppt级（如锂、铅等元素检测限可达0.1 ppt以下）。

· 强抗干扰能力：配备碰撞/反应池技术（ORS 4），通过引入氦气等反应气体，有效消除多原子离子干扰（如Ar＋对75As+的干扰），提高复杂基质样品分析的准确性。

· 高效分析能力：支持全扫描、选择离子扫描等多种模式，最快可在1分钟内完成70余种元素的测定，满足高通量分析需求。

· 智能化操作：搭载MassHunter软件，具备自动校准、样品信息管理、数据溯源等功能，操作界面直观，新手易上手；支持自动进样器联用，减少人为操作误差。

· 稳定性优异：优化的射频发生器和等离子体炬设计，确保长期运行的稳定性，相对标准偏差（RSD）通常低于2%。


技术参数


技术指标
参数范围
质量范围 2 - 260u，可覆盖绝大多数元素的质量检测范围，满足不同样品中各种元素的分析需求。
分辨率可变，范围从0.3u到1.0u ，可根据具体分析需求灵活调整分辨率，确保对不同元素的准确测量。
仪器检出限低质量数≤5×10-7，高质量数≤1×10-7，具备极低的检出限，能够检测出样品中痕量及超痕量元素。
灵敏度Li ≥ 80Mcps / mg·L-1，Y ≥ 240Mcps / mg·L-1，U ≥ 300Mcps / mg·L-1，高灵敏度保证了对元素的高效检测，即使是低含量元素也能准确测定。
氧化物产率≤1.5% ，有效控制氧化物产生，减少氧化物对分析结果的干扰。
双电荷干扰≤3.0% ，降低双电荷离子干扰，提高分析的准确性。


在材料科学领域的应用

· 用于金属、陶瓷、半导体、聚合物等材料中痕量杂质元素分析、材料成分表征与均匀性分析、材料制备过程质量控制以及失效分析，如检测半导体材料中的重金属杂质，分析合金材料的成分比例。