原子力显微镜立体形貌观察

原子力显微镜（AFM）是一种利用微悬臂探针与样品表面原子间的微弱作用力（如范德华力）来探测表面形貌的扫描探针显微镜技术。其通过探针在样品表面扫描，将针尖的微小位移转化为电信号，进而重构出样品表面的三维立体形貌图像。相较于其他显微技术，AFM无需对样品进行特殊处理（如镀膜），可在大气、液体等多种环境下工作，且能实现纳米级甚至原子级的分辨率，是研究材料表面微观结构的重要工具。

在线咨询
能力概况

我们配置的日立多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus是一款高性能的原子力显微镜，具备强大的立体形貌观察能力，可对各类材料（如金属、半导体、聚合物、生物材料等）的表面微观结构进行高精度表征。其不仅能清晰呈现样品表面的起伏、颗粒、孔隙等形貌特征，还可通过多种成像模式获取表面力学性能（如硬度、弹性模量）、电学性能（如表面电势）等附加信息，为材料科学研究中的结构-性能关联分析提供全面支持。

仪器设备

日立的多功能扫描探针显微镜AFM100不但提高了许多AFM用户追求的操作性、测试效率和可靠性，还通过提升与其他设备的融合性，实现了全新的分析方法。


功能特点

· 采用先进的激光检测系统，确保对针尖位移的高灵敏度探测，实现高分辨率成像；

· 支持接触模式、轻敲模式、相位成像等多种扫描模式，可根据样品特性（如柔软、易损伤样品）选择合适模式，避免对样品造成破坏；

· 配备自动化操作与数据分析软件，简化实验流程，提高数据处理效率；

· 样品台兼容性强，可适应不同尺寸和类型的样品。


技术参数


技术指标
参数范围
横向分辨率可达0.1 nm（在最佳条件下）。
纵向分辨率可达0.01 nm。
扫描范围最大可达100 μm × 100 μm（XY方向），Z方向最大扫描范围通常为几微米。
扫描速度可根据需求调节，兼顾成像速度与图像质量。


在材料科学领域的应用

· 观察纳米材料（如纳米颗粒、纳米线、石墨烯）的表面形貌与尺寸分布。

· 分析薄膜材料的表面粗糙度、均匀性及膜层缺陷（如针孔、划痕）。

· 研究材料的磨损、腐蚀表面形貌，探究磨损机制与腐蚀过程。

· 表征生物材料（如细胞、蛋白质膜）的表面结构，为生物相容性研究提供依据。

· 结合力学模式，分析材料表面的纳米级力学性能分布，关联微观结构与宏观力学行为。