X-射线衍射仪分析法

X-射线衍射仪分析法(XRD)是利用X射线照射晶体物质时,晶体内部原子按一定规律排列形成的晶格对X射线产生衍射效应,通过测量衍射花样(衍射峰的位置、强度和形状)来分析物质的晶体结构、物相组成、晶粒大小、应力状态等信息的技术。其原理基于布拉格方程(2d sinθ = nλ,其中d为晶面间距,θ为衍射角,n为整数,λ为X射线波长),是材料科学、地质学、化学等领域研究物质微观结构的重要手段。

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能力概况

我们拥有的日本理学(Rigaku)的SmartLab SE是一款高性能X-射线衍射仪,集成了先进的光学系统和智能化控制技术,能够满足常规物相分析、结构表征及高精度研究需求。其核心能力包括快速准确的物相鉴定、晶体结构解析、薄膜与涂层分析、晶粒尺寸及微观应力测定等,适用于科研实验室和工业质量控制场景。

仪器设备

日本理学(Rigaku)的X射线衍射仪SmartLab SE作为一种材料结构分析设备,其广泛应用于晶体结构分析、物相定性分析、组份定量分析、晶粒大小分析、结晶度分析、晶系和晶格常数的确定等功能。


功能特点


· 采用高精度测角仪,确保衍射角度测量的准确性和重复性,支持广角和小角X射线衍射分析。

· 配备智能光学系统,可根据样品类型自动优化X射线光路,提高衍射信号强度和信噪比。

· 集成自动化样品台,支持多样品连续测试,提升工作效率。

· 搭载专业分析软件(如PDXL),提供物相检索、结构精修、薄膜分析等功能,操作便捷。


技术参数



技术指标参数范围
X射线源配备Cu靶X射线管(波长λ=1.5406Å),管电压最高可达60kV,管电流最高60mA。
测角仪精度角度重现性≤±0.0001°,最小可控步长0.0001°。
扫描范围-10°~160°(2θ)。
探测器采用高灵敏度半导体阵列高速探测器,支持快速扫描,最短扫描时间可低至几秒(针对简单样品)。


在材料科学领域的应用


· 物相分析:鉴定材料中的晶体相组成,例如区分合金中的不同相、陶瓷中的晶相类型等。

· 晶体结构解析:测定晶体的晶格参数、空间群,分析原子排列方式。

· 微观结构表征:计算晶粒尺寸(通过谢乐公式)、评估微观应力(利用衍射峰位移和宽化)。

· 薄膜与涂层分析:测定薄膜的厚度、取向度、结晶度,分析界面结构。

· 相变研究:跟踪材料在温度、压力等条件变化下的相变过程(需配合控温附件)。