X射线荧光光谱法

X射线荧光光谱法是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，通过检测高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线强度分析元素含量，在金属，玻璃，陶瓷，建材等材料检测中得到广泛使用。

该方法利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），进而进行物质成分分析和化学态研究。按激发、色散和探测方法的不同，可分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。该方法检出限一般可达10-5-10-6g/g，便于无损分析，分析速度快，可用于分析原子序数Z≥3的所有元素。

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能力概况

X射线荧光光谱法主要进行航空航天装备、新材料、生物医药、环境及高性能医疗器械等领域铝合金、钛合金材料、高温合金、耐火材料的成分分析，可准确测量样品中O至Am的所有元素含量，具有分析速度快、测量范围宽、抗干扰强的特点，同时适用范围较广，也可应用于金属粉末、不规则固体样品、环境（PM2.5滤膜及土壤）样品的分析，贵金属无损检测。 详华检测配置的岛津EDX-7200是一款能量色散型X射线荧光光谱仪，具备高速、高灵敏度和高精度的分析能力 。可对固体、液体、粉末等多种形态的样品进行元素分析，能检测从钠（Na）到铀（U）等多种元素，适用于材料鉴定、聚合物鉴定、食药环检测等多个领域。

仪器设备

EDX-7200是岛津EDX系列的旗舰机型，追求高灵敏度、高速和高精度，支持RoHS/ELV、REACH、TSCA等法规和指令相关的检测，配备全套专属筛查分析套件。

功能特点

· 高速分析：搭载高速电路，计数量高达以往型号的30倍，通过改良算法和升级性能，缩短测定时间。

· 高灵敏度：提高了金属分析中微量元素的检测下限，检测下限最高可提高6倍。

· 高分辨率：采用SDD检测器，能量分辨率出色，减少不同元素峰值重叠的影响，分析结果更可靠。

· 通用性强：可应对从微小到大型、从粉末到液体等各类样品。配备4种准直器，照射直径可四级自动切换，还标配样品观察装置，可确认X射线照射位置。

· 功能丰富：可进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正，搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可软件操控自动切换，与准直器自由组合达24种。


技术参数


技术指标参数范围
测量范围11Na到92U。
样品尺寸最大可达W300×D275×H100mm，最大样品质量5kg。
X射线发生器铑靶X射线管，电压4kV到50kV，电流1μA到1000μA，风冷。
探测器硅漂移探测器（SDD），电子制冷。
测量气氛空气、真空、氦气。


在材料科学领域的应用

· 金属材料分析：可测定钢渣中CaO、MgO、SiO2等主次成分，以及高镍铬烧结矿中TFe、CaO、Ni等元素，通过粉末压片法前处理，建立校准曲线，准确度和重复性良好。

· 玻璃材料分析：依照相关国标，将光伏玻璃处理后熔融制成玻璃熔片，可同时分析其中的主次成分，能很好地消除基体效应等，提高分析结果准确度。

· 薄膜材料分析：可用于纳米级薄膜膜厚的定量测试，通过构建元素膜中的标准曲线，能测量铁板、压铸铝等基材上的锆膜重、硅膜重等。